Röntgendiffraktometer: Unterschied zwischen den Versionen
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Ein '''Röntgendiffraktometer''' (von [[Diffraktion]], [[Latein|lat.]] für Beugung, auch als ''XRD'' für x-ray diffractionmeter abgekürzt) ist ein Gerät zur Untersuchung der Struktur von [[Kristall|kristallinen]] Phasen in [[Werkstoff|Werkstoffen]].<ref>{{Literatur |Autor=Günter Gottstein |Titel=Materialwissenschaft und Werkstofftechnik Physikalische Grundlagen |Auflage=4., neu bearb. Aufl. |Verlag= |Ort=Berlin/Heidelberg |Datum= 2014 |ISBN=978-3-642-36603-1 |Seiten=54}}</ref> In der Probe tritt [[Röntgenbeugung]] auf und die Beugungswinkel und -Intensitäten werden vermessen. | |||
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* [[Einkristalldiffraktometer]] dienen zur Bestimmung der Kristallstruktur. | * [[Einkristalldiffraktometer]] dienen zur Bestimmung der Kristallstruktur. | ||
**Röntgengoniometer vermessen die [[Textur (Kristallographie)|Textur]] eines Kristalls in drei Dimensionen.<ref>{{Literatur |Autor = K. Weissenberg |Titel = Ein neues Röntgengoniometer |Sammelwerk = Zeitschrift für Physik |Band = 23 |Datum = 1924-12 |ISSN=1434-6001 |Nummer = 1 |Seiten = 229–238 |DOI= 10.1007/BF01327586}}</ref> | |||
* [[Pulverdiffraktometer]] dienen zur Identifizierung von kristallinen Substanzen und zur Quantifizierung von Gemischen. | * [[Pulverdiffraktometer]] dienen zur Identifizierung von kristallinen Substanzen und zur Quantifizierung von Gemischen. | ||
* | * [[Kleinwinkelstreuung|Kleinwinkeldiffraktometer]] (SAXS, {{enS|small angle x-ray scattering}}) dienen zur Untersuchung von langreichweitiger Ordnung in Materialien, z. B. Mikrophasen, smektischen Strukturen in Flüssigkristallen, gefüllten Systemen. | ||
**[[Diffraktometrie unter streifendem Einfall|Röntgendiffraktometrie unter streifendem Einfall]] dient der Strukturuntersuchung von dünnen Schichten. | |||
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Aktuelle Version vom 7. Februar 2021, 16:03 Uhr
Ein Röntgendiffraktometer (von Diffraktion, lat. für Beugung, auch als XRD für x-ray diffractionmeter abgekürzt) ist ein Gerät zur Untersuchung der Struktur von kristallinen Phasen in Werkstoffen.[1] In der Probe tritt Röntgenbeugung auf und die Beugungswinkel und -Intensitäten werden vermessen.
Je nach dem zu untersuchenden Material werden folgende Methoden unterschieden:
- Einkristalldiffraktometer dienen zur Bestimmung der Kristallstruktur.
- Pulverdiffraktometer dienen zur Identifizierung von kristallinen Substanzen und zur Quantifizierung von Gemischen.
- Kleinwinkeldiffraktometer (SAXS, englisch small angle x-ray scattering) dienen zur Untersuchung von langreichweitiger Ordnung in Materialien, z. B. Mikrophasen, smektischen Strukturen in Flüssigkristallen, gefüllten Systemen.
- Röntgendiffraktometrie unter streifendem Einfall dient der Strukturuntersuchung von dünnen Schichten.
Einzelnachweise
- ↑ Günter Gottstein: Materialwissenschaft und Werkstofftechnik Physikalische Grundlagen. 4., neu bearb. Auflage. Berlin/Heidelberg 2014, ISBN 978-3-642-36603-1, S. 54.
- ↑ K. Weissenberg: Ein neues Röntgengoniometer. In: Zeitschrift für Physik. Band 23, Nr. 1, Dezember 1924, ISSN 1434-6001, S. 229–238, doi:10.1007/BF01327586.