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== Leben ==
== Leben ==
Gießibl studierte von 1982 bis 1987 Physik an der [[Technische Universität München|Technischen Universität München]] und an der [[ETH Zürich|Eidgenössischen Technischen Hochschule Zürich]]. 1988 [[Diplom|diplomierte]] er an der Technischen Universität München bei Professor [[Gerhard Abstreiter]] mit einer Arbeit über experimentelle Halbleiterphysik.
Gießibl studierte von 1982 bis 1987 Physik an der [[Technische Universität München|Technischen Universität München]] und an der [[ETH Zürich|Eidgenössischen Technischen Hochschule Zürich]]. 1988 [[diplom]]ierte er an der Technischen Universität München bei Professor [[Gerhard Abstreiter]] mit einer Arbeit über experimentelle Halbleiterphysik.
Die Promotion erfolgte 1991 bei Nobelpreisträger [[Gerd Binnig]] an der [[Universität München]] über Tieftemperatur-[[Rasterkraftmikroskopie]]. Nach der Promotion entwickelte er bei Park Scientific Instruments im Silicon Valley, Sunnyvale, USA das erste Rasterkraftmikroskop, das reaktive Oberflächen wie Silizium atomar auflösen konnte. Danach arbeitete er als Senior Associate zur Unternehmensberatungsfirma [[McKinsey]] von 1995 bis 1996 und erfand er in seiner Freizeit den qPlus Sensor, eine Sonde für die [[Rasterkraftmikroskopie]]. Danach wandte er sich wieder vollständig der Forschung an der [[Rasterkraftmikroskopie]] bei Professor [[Jochen Mannhart]] an der [[Universität Augsburg]] zu und wurde 2001 [[Habilitation|habilitiert]].
Die Promotion erfolgte 1991 bei Nobelpreisträger [[Gerd Binnig]] an der [[Universität München]] über Tieftemperatur-[[Rasterkraftmikroskopie]]. Nach der Promotion entwickelte er bei Park Scientific Instruments im Silicon Valley, Sunnyvale, USA das erste Rasterkraftmikroskop, das reaktive Oberflächen wie Silizium atomar auflösen konnte. Danach arbeitete er als Senior Associate zur Unternehmensberatungsfirma [[McKinsey]] von 1995 bis 1996 und erfand er in seiner Freizeit den qPlus Sensor, eine Sonde für die Rasterkraftmikroskopie. Danach wandte er sich wieder vollständig der Forschung an der Rasterkraftmikroskopie bei Professor [[Jochen Mannhart]] an der [[Universität Augsburg]] zu und wurde 2001 [[Habilitation|habilitiert]].


2006 erhielt er einen [[Berufung (Amt)|Ruf]] auf einen [[Lehrstuhl]] für Angewandte und Experimentelle Physik an die [[Universität Regensburg]], den er annahm. Von 2005 bis 2010 verbrachte er mehrere Forschungsaufenthalte am IBM Research Laboratory in Almaden, Kalifornien. Von Herbst 2015 bis Frühjahr 2016 war er Gastprofessor am [[NIST]] in Gaithersburg, Maryland, USA und an der University of Maryland in College Park.<ref>{{Internetquelle |url=http://www.nist.gov/cnst/giessibl.cfm |titel=Franz Giessibl |autor=US Department of Commerce, NIST |werk=www.nist.gov |sprache=en-US |zugriff=2016-04-10}}</ref>
2006 erhielt er einen [[Berufung (Amt)|Ruf]] auf einen [[Lehrstuhl]] für Angewandte und Experimentelle Physik an die [[Universität Regensburg]], den er annahm. Von 2005 bis 2010 verbrachte er mehrere Forschungsaufenthalte am IBM Research Laboratory in Almaden, Kalifornien. Von Herbst 2015 bis Frühjahr 2016 war er Gastprofessor am [[NIST]] in Gaithersburg, Maryland, USA und an der University of Maryland in College Park.<ref>{{Internetquelle |autor=US Department of Commerce, NIST |url=http://www.nist.gov/cnst/giessibl.cfm |titel=Franz Giessibl |werk=nist.gov |abruf=2016-04-10 |sprache=en}}</ref>


Gießibl ist verheiratet und hat zwei Söhne.
Gießibl ist verheiratet mit einer Grundschullehrerin und hat zwei Söhne.<ref>{{Literatur |Titel=Nanophysiker Franz Gießibl hantiert mit Apfelsinen |Sammelwerk=[[Die Welt]] |Datum=2003-01-23 |Online=https://www.welt.de/print-welt/article351807/Nanophysiker-Franz-Giessibl-hantiert-mit-Apfelsinen.html |Abruf=2020-01-29}}</ref>


== Wissenschaftliche Beiträge ==
== Wissenschaftliche Beiträge ==
Gießibl ist seit dem Beginn seiner Promotion 1988 von der [[Rasterkraftmikroskopie]] fasziniert, verbessert sie seitdem kontinuierlich <ref>[http://www.spiegel.de/wissenschaft/mensch/0,1518,86908,00.html SPIEGEL ONLINE - Wissenschaft - 27. Juli 2000: Nanophysik: Atome unterm Mikroskop]</ref><ref>[https://www.welt.de/print-welt/article351807/Nanophysiker-Franz-Giessibl-hantiert-mit-Apfelsinen.html DIE WELT: 24. Januar 2003: Nanophysiker Franz Giessibl hantiert mit Apfelsinen]</ref><ref>[http://www.nytimes.com/2008/02/22/science/22atom.html The New York Times - 22. Februar 2008: Scientists Measure What It Takes to Push a Single Atom]</ref> und hat grundlegende experimentelle,<ref>F. J. Giessibl: ''Atomic resolution of the Silicon (111)-(7x7) surface by atomic force microscopy.''  ''Science'' 267, Nr. 5194, 1995, p. 68–71.</ref><ref>F. J. Giessibl, S. Hembacher, H. Bielefeldt, J. Mannhart: ''Subatomic features on the Silicon (111)-(7x7) surface observed by atomic force microscopy.'' In: ''Science.'' 289, Nr. 5478, 2000, p. 422-425.</ref> instrumentierungsbezogene<ref>F. J. Giessibl, F. Pielmeier, T. Eguchi, T. An, Y. Hasegawa: ''Comparison of force sensors for atomic force microscopy based on quartz tuning forks and length-extensional resonators.''  ''Phys. Rev. B'' 84, 2011, article number 125409, 15 pages.</ref> und theoretische<ref>F. J. Giessibl: ''Forces and frequency shifts in atomic-resolution dynamic-force microscopy.''  ''Phys. Rev. B'' 56,  1997, p. 16010–16015.</ref><ref>F. J. Giessibl: ''Advances in atomic force microscopy.'' In: ''Reviews of Modern Physics.'' 75, Nr. 3, 2003, p. 949–983</ref> Arbeiten zur [[Rasterkraftmikroskopie]] verfasst.
Gießibl arbeitet seit dem Beginn seiner Promotion 1988 mit der [[Rasterkraftmikroskopie]], verbessert sie seitdem kontinuierlich<ref>Spiegel Online – 27. Juli 2000: [http://www.spiegel.de/wissenschaft/mensch/0,1518,86908,00.html ''Wissenschaft Nanophysik: Atome unterm Mikroskop.'']</ref><ref>''Die Welt.'' 24. Januar 2003: [https://www.welt.de/print-welt/article351807/Nanophysiker-Franz-Giessibl-hantiert-mit-Apfelsinen.html ''Nanophysiker Franz Giessibl hantiert mit Apfelsinen.'']</ref><ref>''The New York Times.'' 22. Februar 2008: [http://www.nytimes.com/2008/02/22/science/22atom.html ''Scientists Measure What It Takes to Push a Single Atom.'']</ref> und hat grundlegende experimentelle,<ref>{{Literatur |Autor=F. J. Giessibl |Titel=Atomic Resolution of the Silicon (111)-(7x7) Surface by Atomic Force Microscopy |Sammelwerk=Science |Band=267 |Nummer=5194 |Datum=1995 |Seiten=68–71 |DOI=10.1126/science.267.5194.68 |PMID=17840059}}</ref><ref name="PMID10903196">{{Literatur |Autor=F. J. Giessibl, S. Hembacher, H. Bielefeldt, J. Mannhart |Titel=Subatomic Features on the Silicon (111)-(7x7) Surface Observed by Atomic Force Microscopy |Sammelwerk=[[Science]] |Band=289 |Nummer=5478 |Datum=2000 |Seiten=422–426 |Online=[http://science.sciencemag.org/content/289/5478/422.full science.sciencemag.org] |PMID=10903196}}</ref> instrumentierungsbezogene<ref>{{Literatur |Autor=F. J. Giessibl, F. Pielmeier, T. Eguchi, T. An, Y. Hasegawa |Titel=A comparison of force sensors for atomic force microscopy based on quartz tuning forks and length extensional resonators |Sammelwerk=[[Physical Review]] B |Band=84 |Nummer=12 |Datum=2011 |ISSN=1098-0121 |Seiten= |arXiv=1104.2987 |DOI=10.1103/PhysRevB.84.125409 |Umfang=15 Seiten}}</ref> und theoretische<ref>{{Literatur |Autor=F. J. Giessibl |Titel=Forces and frequency shifts in atomic-resolution dynamic-force microscopy |Sammelwerk=[[Physical Review]] B |Band=56 |Nummer=24 |Ort= |Datum=1997 |Seiten=16010–16015 |DOI=10.1103/PhysRevB.56.16010}}</ref><ref>{{Literatur |Autor=F. J. Giessibl |Titel=Advances in atomic force microscopy |Sammelwerk=[[Physical Review|Reviews of Modern Physics]] |Band=75 |Nummer=3 |Datum=2003 |ISSN=0034-6861 |Seiten=949–983 |arXiv=cond-mat/0305119 |DOI=10.1103/RevModPhys.75.949}}</ref> Arbeiten zur Rasterkraftmikroskopie verfasst.


Ein Beispiel ist der qPlus Sensor<ref>F. J. Giessibl: ''Device for noncontact intermittent contact scanning of a surface and a process therefore.'' US Patent 6240771</ref><ref>F. J. Giessibl: ''Sensor for noncontact profiling of a surface.'' US Patent 8393009</ref>.  Dieser ursprünglich auf einer Quarzstimmgabel basierende Sensor ist etwa um einen Faktor 100 steifer als herkömmliche Silizium-Kraftdetektoren und kann dadurch selbst annähernd im Kontakt mit einer Oberfläche stabil mit kleinen Amplituden von Bruchteilen eines Atomdurchmessers schwingen. Der qPlus Sensor wird heute in vielen kommerziellen<ref>http://createc.de/index.php?index=1&lng=en&menuid=37</ref><ref>http://www.scientaomicron.com/en/products/low-temperature-spm/instrument-concept</ref> und selbstgebauten Rasterkraftmikroskopen eingesetzt und hat es zum Beispiel ermöglicht, subatomare Ortsauflösung auf einzelnen Atomen <ref>F. J. Giessibl, S. Hembacher, H. Bielefeldt, J. Mannhart: ''Subatomic features on the Silicon (111)-(7x7) surface observed by atomic force microscopy.'' In: ''Science.'' 289, Nr. 5478, 2000, S. 422–425</ref><ref>M. Emmrich, et al.: ''Subatomic resolution force microscopy reveals internal structure and adsorption sites of small iron clusters.'' In: ''Science''348, 308, 2015, [[doi:10.1126/science.aaa5329]]</ref> und submolekulare Auflösung auf organischen Molekülen<ref>L. Gross et al. ''THE CHEMICAL STRUCTURE OF A MOLECULE RESOLVED BY ATOMIC FORCE MICROSCOPY.''  ''Science'' 325, Nr. 5944, 2009, p. 1110.</ref> zu erreichen.
Ein Beispiel ist der qPlus Sensor.<ref>F. J. Giessibl: ''Device for noncontact intermittent contact scanning of a surface and a process therefore.'' US-Patent 6240771.</ref><ref>F. J. Giessibl: ''Sensor for noncontact profiling of a surface.'' US-Patent 8393009.</ref> Dieser ursprünglich auf einer Quarzstimmgabel basierende Sensor ist etwa um einen Faktor 100 steifer als herkömmliche Silizium-Kraftdetektoren und kann dadurch selbst annähernd im Kontakt mit einer Oberfläche stabil mit kleinen Amplituden von Bruchteilen eines Atomdurchmessers schwingen. Der qPlus Sensor wird heute in vielen kommerziellen<ref>CreaTec Fischer & Co. GmbH ([http://createc.de/index.php?index=1&lng=en&menuid=37 createc.de]).</ref><ref>''Low Temperature SPM – Scienta Omicron.'' ([http://www.scientaomicron.com/en/products/low-temperature-spm/instrument-concept scientaomicron.com]).</ref> und selbstgebauten Rasterkraftmikroskopen eingesetzt und hat es zum Beispiel ermöglicht, subatomare Ortsauflösung auf einzelnen Atomen<ref name="PMID10903196"/><ref>{{Literatur |Autor=M. Emmrich, et al. |Titel=Subatomic resolution force microscopy reveals internal structure and adsorption sites of small iron clusters |Sammelwerk=[[Science]] |Band=348 |Nummer=6232 |Datum=2015 |Seiten=308–311 |Fundstelle=hier S. 308 |DOI=10.1126/science.aaa5329 |PMID=25791086}}</ref> und submolekulare Auflösung auf organischen Molekülen<ref>{{Literatur |Autor=L. Gross et al. |Titel=The chemical structure of a molecule resolved by atomic force microscopy |Sammelwerk=[[Science]] |Band=325 |Nummer=5944 |Datum=2009 |Seiten=1110–1114 |Fundstelle=hier S. 1110 |DOI=10.1126/science.1176210 |PMID=19713523}}</ref> zu erreichen sowie die Bindung zwischen natürlichen und durch [[Quantum Corral]]s gebildeten künstlichen Atomen zu vermessen.<ref>{{Literatur |Autor=F. Stilp, et al. |Titel=Very weak bonds to artificial atoms formed by quantum corrals |Sammelwerk=[[Science]] |Band=372|Nummer=6547 |Datum=2021 |Seiten=1196-1200 |Fundstelle=hier S. 1196 |DOI=10.1126/science.abe2600 |PMID=34010141}}</ref>


* 1992: Bau des ersten Tieftemperatur-Rasterkraftmikroskops für Vakuum mit seinem Doktorvater [[Gerd Binnig]] und [[Christoph Gerber]] (JVST 1991) und Erreichen atomarer Ortsauflösung auf Kaliumbromid (KBr)  (Ultramicroscopy 1992). KBr ist sehr reaktionsträge, dennoch mussten gravierende Probleme wie das an-die-Probe-schnappen der Kraftmikroskopiespitze gelöst werden um atomare Auflösung zu erreichen.
== Bücher ==
* 1992: Vorschlag für einen Abbildungsmechanismus, der atomare Auflösung im Nichtkontakt-Modus erreichen sollte (Phys Rev B 1992).
 
* 1994: Lösung für das Problem der Abbildung einer reaktiven Probe im Nichtkontakt-Modus, erstmalige Abbildung der Silicium(111) 7x7 Oberfläche durch Frequenzmodulations-Rasterkraftmikroskopie mit Silicium Kraftsensoren und großen Schwingungsamplituden im Bereich von mehr als hundert Atomdurchmessern (Science 1995).
1. Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 (NanoScience and Technology), S. Morita, F.J. Giessibl, R. Wiesendanger (Eds.), Springer 2012
* 1996: Erfindung des qPlus Sensors (Patente DE19633546, US6240771).
 
* 1997: Ableitung des Zusammenhangs zwischen Frequenzverschiebung und Spitzenkraft auch für Schwingungsamplituden, die im Vergleich zur Abklinglänge der Kräfte groß sind (Phys Rev B 1997).
2. Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3 (NanoScience and Technology), S. Morita, F.J. Giessibl, E. Meyer, R. Wiesendanger (Eds.), Springer 2015
* 2000: Experimentelle Evidenz für subatomares Auflösungsvermögen der Kraftmikroskopie (Science 2000).
 
* 2001: Algorithmus zur Entfaltung von Kraft-Abstandskurven aus Frequenzverschiebungs-Abstandskurven (Appl Phys Lett 2001).
3. Erster Blick in das Innere eines Atoms – Begegnungen mit [[Gerhard Richter]] zwischen Kunst und Wissenschaft Franz J. Gießibl, Verlag der [[Buchhandlung Walther König]] und Franz König, Köln 2022
* 2003: Erweiterte Version seiner Habilitationsschrift erscheint als eingeladener Artikel in Reviews of Modern Physics (RMP 2003).
 
* 2003: Atomar aufgelöste Lateralkraftmikroskopie, atomarer Ursprung der Reibung (PNAS 2003).
4. First view inside an Atom― Encounters with [[Gerhard Richter]] between Art and Science,
* 2004: Sub-Angström Ortsauflösung auf Abtastspitzen in einem Tieftemperatur-Kraftmikroskop welches höhere Harmonische der Sensorschwingung detektiert (Science 2004).
English Edition, Franz J. Gießibl, Verlag der [[Buchhandlung Walther König]] und Franz König, Köln 2022
* 2005–2008: Unterstützung der IBM Research Laboratorien Almaden und Rüschlikon bei der Einführung der qPlus Technologie, dabei erstmalige Messung der Kräfte, die beim Bewegen eines einzelnen Atoms wirken (Science 2008) und Nachweis der Ladung eines Elektrons auf einem einzigen Goldatom (Science 2009).
* 2012: Einführung der "carbon monoxide front atom identification" (COFI), einer Methode zur atomaren und subatomaren Charakterisierung von Abtastspitzen der Rastersondenmikroskopie (Science 2012).
* 2013: Rauscharme Abbildung des Antiferromagneten NiO mit Spinkontrast und quantitativer Bestimmung der spinabhängigen Kräfte, Hinweise auf Superaustausch (Phys Rev Lett 2013).
* 2013: Erreichen atomarer Ortsauflösung von Kaliumbromid unter Umgebungsbedingungen (Phys Rev B 2013).
* 2014: Messung der Wechselwirkungsenergie zweier CO Moleküle und der lateralen Steifigkeit eines CO Moleküls an der Spitze eines Kraftmikroskops durch Lateralkraftmikroscopie (Science 2014).
* 2015: Atomare Auflösung von Metallclustern aus wenigen Atomen und subatomare Ortsauflösung an einzelnen Metallatomen (Science 2015).
* 2016: Kombination Tunnelspektroskopie/AFM (Phys Rev B 2016), AFM mit supraleitenden Spitzen (Phys Rev B 2016), Multifrequency AFM mit qPlus Sensor (Appl Phys Lett 2016)


== Auszeichnungen ==
== Auszeichnungen ==
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* 2009: Karl Heinz Beckurts Preis der [[Karl Heinz Beckurts-Stiftung]]
* 2009: Karl Heinz Beckurts Preis der [[Karl Heinz Beckurts-Stiftung]]
* 2010: Ehrenfest Kolloquium Leiden (Niederlande)
* 2010: Ehrenfest Kolloquium Leiden (Niederlande)
* 2014: Joseph F. Keithley Award for Advances in Measurement Science der Amerikanischen Physikalischen Gesellschaft
* 2014: [[Joseph F. Keithley]] Award for Advances in Measurement Science der Amerikanischen Physikalischen Gesellschaft
* 2015: Rudolf-Jaeckel Preis der Deutschen Vakuumgesellschaft <ref>''Vakuum in Forschung und Praxis.'' Volume 27 Issue 5 (Oktober/November 2015), [[doi:10.1002/vipr.201590050]]</ref>
* 2015: Rudolf-Jaeckel Preis der Deutschen Vakuumgesellschaft<ref>{{Literatur |Autor= |Titel=Rudolf Jaeckel-Preis 2015 an Prof. Dr. Franz J. Gießibl |Sammelwerk=Vakuum in Forschung und Praxis |Band=27 |Nummer=5 |Datum=2015 |ISSN=0947-076X |Seiten=38–38 |DOI=10.1002/vipr.201590050}}</ref>
* 2016: [[Feynman Prize in Nanotechnology]]
* 2016: [[Feynman Prize in Nanotechnology]]
==Vorträge (Auswahl)==
*[http://cnsi.ctrl.ucla.edu/streaming/seminar-series/10142014-giessibl Presentation at California Nanosystems Institute, University of California, Los Angeles, October 14, 2014]
*[https://www.phys.ens.fr/spip.php?article2610&lang=en-giessibl Colloquium at Ecole Normale Superieure, Paris, October 6, 2016]


== Interviews (Auswahl) ==
*[http://iopscience.iop.org/0957-4484/page/Nanotechnology%20Discussions%20podcasts Interview about beginnings, now and future of nanotechnology by the British Journal Nanotechnology with Professors] [[James Gimzewski]]<span href="ETH Zürich"> and </span>[[Christoph Gerber]]
*[http://www.weltderphysik.de/gebiete/stoffe/reibung/ Podcast by Franziska Konitzer from Welt der Physik with Giessibl about friction (in German)]
*[http://scitation.aip.org/content/aip/journal/rsi/info/media Podcast with Reviews of Scientific Instruments about advances in atomic force microscopy]
*[http://nanotechweb.org/cws/article/multimedia/65736 Interview with nanotech.org about 30 years of atomic force microscopy]
== Weblinks ==
== Weblinks ==
* [http://www.physik.uni-regensburg.de/forschung/giessibl Webseite Franz Josef Gießibl (Uni Regensburg)]
'''Vorträge (Auswahl)'''
* [http://scholar.google.ca/citations?hl=en&view_op=search_authors&mauthors=Franz+J.+Giessibl+ Franz J. Giessibl bei Google Scholar]
* [http://cnsi.ctrl.ucla.edu/streaming/seminar-series/10142014-giessibl ''Presentation at California Nanosystems Institute.''] University of California, Los Angeles 14. Oktober 2014
*[http://mark-nano.blogspot.com/2006/07/giessibls-afm-atomic-force-microscopy.html Mark Wendman nanoscience blog]
* [https://www.phys.ens.fr/spip.php?article2610&lang=en-giessibl ''Colloquium at Ecole Normale Superieure.''] Paris 6. Oktober 2016
* [http://www.beckurts-stiftung.de/presseinfo/main.html Pressemitteilung Beckurts-Preis]
* [https://www.video.ethz.ch/speakers/zurich_physics_colloquium.html ''Colloquium at Eidgenoessische Technische Hochschule Zuerich''] Zürich 30. Mai 2018
 
'''Interviews (Auswahl)'''
* [http://iopscience.iop.org/0957-4484/page/Nanotechnology%20Discussions%20podcasts ''Interview about beginnings, now and future of nanotechnology''] In: ''British Journal Nanotechnology'' mit [[James Gimzewski]] und [[Christoph Gerber]]
* Franziska Konitzer: [https://www.weltderphysik.de/fileadmin/podcasts/WeltDerPhysik153.mp3 ''Welt der Physik'' mit Giessibl] (Podcast)
* Reviews of Scientific Instruments: [http://scitation.aip.org/content/aip/journal/rsi/info/media ''advances in atomic force microscopy''] (Podcast)
* [https://www.youtube.com/watch?v=waXdLnX82gU Interview about 30 years of atomic force microscopy] von nanotech.org auf youtube
 
'''Zu Gießibl'''
* [http://www.physik.uni-regensburg.de/forschung/giessibl Webseite Franz Josef Gießibl] (Uni Regensburg)
* [http://scholar.google.ca/citations?hl=en&view_op=search_authors&mauthors=Franz+J.+Giessibl+ Franz J. Giessibl] bei Google Scholar
* [http://mark-nano.blogspot.com/2006/07/giessibls-afm-atomic-force-microscopy.html Mark Wendman] nanoscience blog
* [https://idw-online.de/de/news349133 Pressemitteilung Beckurts-Preis]
* [http://www.rdmag.com/award-winners/1994/01/autoprobe-vp R&D 100 Award 1994] des R&D Magazine
* [http://www.rdmag.com/award-winners/1994/01/autoprobe-vp R&D 100 Award 1994] des R&D Magazine
* [http://www.nanoanalytik-hamburg.de/shtml/Nanopreis2000.shtml Deutscher Nanowissenschaftspreis]
* [http://www.nanoanalytik-hamburg.de/shtml/Nanopreis2000.shtml Deutscher Nanowissenschaftspreis]
 
* Spiegel Online: [http://www.spiegel.de/wissenschaft/mensch/0,1518,86908,00.html ''Wissenschaft – Nanophysik: Atome unterm Mikroskop''] 27. Juli 2000
* [http://www.spiegel.de/wissenschaft/mensch/0,1518,86908,00.html SPIEGEL ONLINE - Wissenschaft - 27. Juli 2000: Nanophysik: Atome unterm Mikroskop]
* Die Welt: [https://www.welt.de/print-welt/article351807/Nanophysiker-Franz-Giessibl-hantiert-mit-Apfelsinen.html ''Nanophysiker Franz Gießibl hantiert mit Apfelsinen''] 24. Januar 2003
* [https://www.welt.de/print-welt/article351807/Nanophysiker-Franz-Giessibl-hantiert-mit-Apfelsinen.html DIE WELT: 24. Januar 2003: Nanophysiker Franz Gießibl hantiert mit Apfelsinen]
* The New York Times: [http://www.nytimes.com/2008/02/22/science/22atom.html ''Scientists Measure What It Takes to Push a Single Atom''] 22. Februar 2008
* [http://www.nytimes.com/2008/02/22/science/22atom.html The New York Times - 22. Februar 2008: Scientists Measure What It Takes to Push a Single Atom]
* [http://www.lorentz.leidenuniv.nl/ce/archief/2010.html Colloquium Ehrenfestii]
* [http://www.lorentz.leidenuniv.nl/ce/archief/2010.html Colloquium Ehrenfestii]
* [http://www.aps.org/programs/honors/prizes/prizerecipient.cfm?last_nm=Giessibl&first_nm=Franz&year=2014 Joseph F. Keithley Award for Advances in Measurement Science]
* [http://www.aps.org/programs/honors/prizes/prizerecipient.cfm?last_nm=Giessibl&first_nm=Franz&year=2014 Joseph F. Keithley Award for Advances] in Measurement Science


== Einzelnachweise ==
== Einzelnachweise ==
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[[Kategorie:Absolvent der Ludwig-Maximilians-Universität München]]


{{Personendaten
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Aktuelle Version vom 12. Februar 2022, 07:48 Uhr

Franz Josef Gießibl (* 27. Mai 1962 in Amerang) ist ein deutscher Physiker und Universitätsprofessor an der Universität Regensburg.

Leben

Gießibl studierte von 1982 bis 1987 Physik an der Technischen Universität München und an der Eidgenössischen Technischen Hochschule Zürich. 1988 diplomierte er an der Technischen Universität München bei Professor Gerhard Abstreiter mit einer Arbeit über experimentelle Halbleiterphysik. Die Promotion erfolgte 1991 bei Nobelpreisträger Gerd Binnig an der Universität München über Tieftemperatur-Rasterkraftmikroskopie. Nach der Promotion entwickelte er bei Park Scientific Instruments im Silicon Valley, Sunnyvale, USA das erste Rasterkraftmikroskop, das reaktive Oberflächen wie Silizium atomar auflösen konnte. Danach arbeitete er als Senior Associate zur Unternehmensberatungsfirma McKinsey von 1995 bis 1996 und erfand er in seiner Freizeit den qPlus Sensor, eine Sonde für die Rasterkraftmikroskopie. Danach wandte er sich wieder vollständig der Forschung an der Rasterkraftmikroskopie bei Professor Jochen Mannhart an der Universität Augsburg zu und wurde 2001 habilitiert.

2006 erhielt er einen Ruf auf einen Lehrstuhl für Angewandte und Experimentelle Physik an die Universität Regensburg, den er annahm. Von 2005 bis 2010 verbrachte er mehrere Forschungsaufenthalte am IBM Research Laboratory in Almaden, Kalifornien. Von Herbst 2015 bis Frühjahr 2016 war er Gastprofessor am NIST in Gaithersburg, Maryland, USA und an der University of Maryland in College Park.[1]

Gießibl ist verheiratet mit einer Grundschullehrerin und hat zwei Söhne.[2]

Wissenschaftliche Beiträge

Gießibl arbeitet seit dem Beginn seiner Promotion 1988 mit der Rasterkraftmikroskopie, verbessert sie seitdem kontinuierlich[3][4][5] und hat grundlegende experimentelle,[6][7] instrumentierungsbezogene[8] und theoretische[9][10] Arbeiten zur Rasterkraftmikroskopie verfasst.

Ein Beispiel ist der qPlus Sensor.[11][12] Dieser ursprünglich auf einer Quarzstimmgabel basierende Sensor ist etwa um einen Faktor 100 steifer als herkömmliche Silizium-Kraftdetektoren und kann dadurch selbst annähernd im Kontakt mit einer Oberfläche stabil mit kleinen Amplituden von Bruchteilen eines Atomdurchmessers schwingen. Der qPlus Sensor wird heute in vielen kommerziellen[13][14] und selbstgebauten Rasterkraftmikroskopen eingesetzt und hat es zum Beispiel ermöglicht, subatomare Ortsauflösung auf einzelnen Atomen[7][15] und submolekulare Auflösung auf organischen Molekülen[16] zu erreichen sowie die Bindung zwischen natürlichen und durch Quantum Corrals gebildeten künstlichen Atomen zu vermessen.[17]

Bücher

1. Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 (NanoScience and Technology), S. Morita, F.J. Giessibl, R. Wiesendanger (Eds.), Springer 2012

2. Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3 (NanoScience and Technology), S. Morita, F.J. Giessibl, E. Meyer, R. Wiesendanger (Eds.), Springer 2015

3. Erster Blick in das Innere eines Atoms – Begegnungen mit Gerhard Richter zwischen Kunst und Wissenschaft Franz J. Gießibl, Verlag der Buchhandlung Walther König und Franz König, Köln 2022

4. First view inside an Atom― Encounters with Gerhard Richter between Art and Science, English Edition, Franz J. Gießibl, Verlag der Buchhandlung Walther König und Franz König, Köln 2022

Auszeichnungen

  • 1994: R&D 100 Award
  • 2000: Deutscher Nanowissenschaftspreis
  • 2001: Rudolf-Kaiser-Preis
  • 2009: Karl Heinz Beckurts Preis der Karl Heinz Beckurts-Stiftung
  • 2010: Ehrenfest Kolloquium Leiden (Niederlande)
  • 2014: Joseph F. Keithley Award for Advances in Measurement Science der Amerikanischen Physikalischen Gesellschaft
  • 2015: Rudolf-Jaeckel Preis der Deutschen Vakuumgesellschaft[18]
  • 2016: Feynman Prize in Nanotechnology

Weblinks

Vorträge (Auswahl)

Interviews (Auswahl)

Zu Gießibl

Einzelnachweise

  1. ↑ US Department of Commerce, NIST: Franz Giessibl. In: nist.gov. Abgerufen am 10. April 2016 (Lua-Fehler in Modul:Multilingual, Zeile 149: attempt to index field 'data' (a nil value)).
  2. ↑ Nanophysiker Franz Gießibl hantiert mit Apfelsinen. In: Die Welt. 23. Januar 2003 (welt.de [abgerufen am 29. Januar 2020]).
  3. ↑ Spiegel Online – 27. Juli 2000: Wissenschaft Nanophysik: Atome unterm Mikroskop.
  4. ↑ Die Welt. 24. Januar 2003: Nanophysiker Franz Giessibl hantiert mit Apfelsinen.
  5. ↑ The New York Times. 22. Februar 2008: Scientists Measure What It Takes to Push a Single Atom.
  6. ↑ F. J. Giessibl: Atomic Resolution of the Silicon (111)-(7x7) Surface by Atomic Force Microscopy. In: Science. Band 267, Nr. 5194, 1995, S. 68–71, doi:10.1126/science.267.5194.68, PMID 17840059.
  7. ↑ 7,0 7,1 F. J. Giessibl, S. Hembacher, H. Bielefeldt, J. Mannhart: Subatomic Features on the Silicon (111)-(7x7) Surface Observed by Atomic Force Microscopy. In: Science. Band 289, Nr. 5478, 2000, S. 422–426, PMID 10903196 (science.sciencemag.org).
  8. ↑ F. J. Giessibl, F. Pielmeier, T. Eguchi, T. An, Y. Hasegawa: A comparison of force sensors for atomic force microscopy based on quartz tuning forks and length extensional resonators. In: Physical Review B. Band 84, Nr. 12, 2011, ISSN 1098-0121, doi:10.1103/PhysRevB.84.125409, arxiv:1104.2987 (15 Seiten).
  9. ↑ F. J. Giessibl: Forces and frequency shifts in atomic-resolution dynamic-force microscopy. In: Physical Review B. Band 56, Nr. 24, 1997, S. 16010–16015, doi:10.1103/PhysRevB.56.16010.
  10. ↑ F. J. Giessibl: Advances in atomic force microscopy. In: Reviews of Modern Physics. Band 75, Nr. 3, 2003, ISSN 0034-6861, S. 949–983, doi:10.1103/RevModPhys.75.949, arxiv:cond-mat/0305119.
  11. ↑ F. J. Giessibl: Device for noncontact intermittent contact scanning of a surface and a process therefore. US-Patent 6240771.
  12. ↑ F. J. Giessibl: Sensor for noncontact profiling of a surface. US-Patent 8393009.
  13. ↑ CreaTec Fischer & Co. GmbH (createc.de).
  14. ↑ Low Temperature SPM – Scienta Omicron. (scientaomicron.com).
  15. ↑ M. Emmrich, et al.: Subatomic resolution force microscopy reveals internal structure and adsorption sites of small iron clusters. In: Science. Band 348, Nr. 6232, 2015, S. 308–311, hier S. 308, doi:10.1126/science.aaa5329, PMID 25791086.
  16. ↑ L. Gross et al.: The chemical structure of a molecule resolved by atomic force microscopy. In: Science. Band 325, Nr. 5944, 2009, S. 1110–1114, hier S. 1110, doi:10.1126/science.1176210, PMID 19713523.
  17. ↑ F. Stilp, et al.: Very weak bonds to artificial atoms formed by quantum corrals. In: Science. Band 372, Nr. 6547, 2021, S. 1196–1200, hier S. 1196, doi:10.1126/science.abe2600, PMID 34010141.
  18. ↑ Rudolf Jaeckel-Preis 2015 an Prof. Dr. Franz J. Gießibl. In: Vakuum in Forschung und Praxis. Band 27, Nr. 5, 2015, ISSN 0947-076X, S. 38–38, doi:10.1002/vipr.201590050.
Personendaten
NAME Gießibl, Franz Josef
KURZBESCHREIBUNG deutscher Physiker
GEBURTSDATUM 27. Mai 1962
GEBURTSORT Amerang
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