Röntgendiffraktometer
Ein Röntgendiffraktometer (von Diffraktion, lat. für Beugung, auch als XRD für x-ray diffractionmeter abgekürzt) ist ein Gerät zur Untersuchung der Struktur von kristallinen Phasen in Werkstoffen.[1] In der Probe tritt Röntgenbeugung auf und die Beugungswinkel und -Intensitäten werden vermessen.
Je nach dem zu untersuchenden Material werden folgende Methoden unterschieden:
- Einkristalldiffraktometer dienen zur Bestimmung der Kristallstruktur.
- Pulverdiffraktometer dienen zur Identifizierung von kristallinen Substanzen und zur Quantifizierung von Gemischen.
- Kleinwinkeldiffraktometer (SAXS, englisch small angle x-ray scattering) dienen zur Untersuchung von langreichweitiger Ordnung in Materialien, z. B. Mikrophasen, smektischen Strukturen in Flüssigkristallen, gefüllten Systemen.
- Röntgendiffraktometrie unter streifendem Einfall dient der Strukturuntersuchung von dünnen Schichten.
Einzelnachweise
- ↑ Günter Gottstein: Materialwissenschaft und Werkstofftechnik Physikalische Grundlagen. 4., neu bearb. Auflage. Berlin/Heidelberg 2014, ISBN 978-3-642-36603-1, S. 54.
- ↑ K. Weissenberg: Ein neues Röntgengoniometer. In: Zeitschrift für Physik. Band 23, Nr. 1, Dezember 1924, ISSN 1434-6001, S. 229–238, doi:10.1007/BF01327586.