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Die Shockley-Gleichung, benannt nach William B. Shockley, beschreibt die Strom-Spannungs-Kennlinie einer Halbleiterdiode.
Sie lautet nach Wagner[1]:
Kennlinie einer 1N4001-Diode
(gilt für 1N4001 bis 1N4007)
- $ I_{\text{D}}=I_{\text{S}}(T)\,\left(\mathrm {e} ^{\frac {U_{\text{F}}}{n\,U_{\text{T}}}}-1\right) $
- Anoden-Kathoden-Spannung oder Flussspannung: $ U_{\text{F}} $
- Strom durch die Diode: $ I_{\text{D}} $
- Sättigungssperrstrom (kurz: Sperrstrom): $ I_{\text{S}}(T)\approx {10^{-12}\dots 10^{-6}\;\mathrm {A} } $
- Emissionskoeffizient: $ n\approx 1\dots 2 $
- Temperaturspannung: $ U_{\text{T}}={\frac {k\cdot T}{q}}\approx {25\;\mathrm {mV} } $ bei 20 °C (mit der absoluten Temperatur $ T $, der Boltzmannkonstante $ k $ und der Elementarladung $ q $)
In Durchlassrichtung, also für positive Spannung $ U_{\text{F}} $, wächst die Exponentialfunktion für Werte von $ U_{\text{F}} $, die größer als $ n\ U_{\text{T}} $ sind, stark an. Damit erhält man für die Shockley-Gleichung in guter Näherung:[2]
- $ I_{\text{D}}\approx I_{\text{S}}(T)\,\cdot \mathrm {e} ^{\frac {U_{\text{F}}}{n\,U_{\text{T}}}} $
Für $ U_{\text{F}}>n\cdot 120\,\mathrm {mV} $ weicht diese Näherung um weniger als 1 % vom theoretischen Wert ab, für $ U_{\text{F}}>n\cdot 180\,\mathrm {mV} $ um weniger als 1 ‰. Wie man an den Kennlinien sieht, ist die tatsächliche Spannung deutlich höher.
Die Shockley-Gleichung beschreibt das Großsignalverhalten, also die physikalisch messbaren Größen einer Diode. Im Kleinsignalverhalten approximiert man die Gleichung durch eine lineare Näherung in der Umgebung eines gewählten Arbeitspunktes.
Quellen
- ↑ C. Wagner: Theory of Current Rectifiers. In: Phys. Z. Band 32, 1931, S. 641–645. (Ref. in: F. S. Goucher, G. L. Pearson, M. Sparks, G. K. Teal, W. Shockley: Theory and Experiment for a Germanium p-n Junction. In: Physical Review. Band 81, Nr. 4, 15. Januar 1951, S. 637, doi:10.1103/PhysRev.81.637.2. )
- ↑ Ralf Kories, Heinz Schmidt-Walter: Taschenbuch der Elektrotechnik: Grundlagen und Elektronik. Harri Deutsch Verlag, 2008, ISBN 978-3-8171-1830-4, S. 364.